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  依据标准:
 
  IEC 61000-4-4/GB T 17626.4:电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
 
  脉冲群抗扰度试验,是模拟电网中众多机械开关在切换感性负载时所产生的干扰。这类干扰的特点是:成群出现的窄脉冲、脉冲的重复频率较高(kHz-MHz级)、上升沿陡峭(ns级)、单个脉冲的持续时间短暂(10-100ns级)、幅度达到kV级。成群出现的窄脉冲可对半导体器件的结电容充电,当能量积累到一定程度后可引起线路或设备出错。试验时将脉冲叠加在电源线(通过耦合/去耦网络)和通信线路(通过电容耦合夹),对设备形成干扰。
 
  受试设备(EUT)的试验部分主要包括设备的供电电源端口、保护接地(PE)、信号和控制端口。
 
脉冲群抗扰度试验